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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間：2011年6月2日   |   閱讀次數(shù)： 707

我們供變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀  1．測(cè)試式作方式：正接法測(cè)量，反接法測(cè)量。 2．儀器高壓輸出：0.5KV-10KV(每1KV一檔) 3．電容測(cè)量范圍：Cx=30pF-40000PF，分辨率：0.1PF 誤差：10KV時(shí)≤2000PF，2KV時(shí)≤60000PF，讀數(shù)×±1.0%±1PF 4．介質(zhì)損耗因素測(cè)量范圍：tgδ：0.1%-10%,分辨率：0.0001 誤差:讀數(shù)×±1.0%±0.08% 5．頻率輸出：45HZ、50HZ、55HZ、55/65HZ、60HZ、65HZ 6．儀器為一體化結(jié)構(gòu)：重量20Kg 7．體積：470*370*410

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